1. 結垢問題
現象:模塊內部通道或樹脂層表面出現白色或淡黃色沉積物,導致水流阻力增大、產水量下降,嚴重時可能堵塞流道。
原因:進水硬度(鈣、鎂離子含量)過高,當原水未經過充分軟化處理時,高濃度鈣鎂離子在EDI模塊的高壓電場和濃縮水側易形成碳酸鈣、硫酸鈣等難溶鹽結晶,附著在樹脂顆粒表面或流道內壁,逐步累積形成結垢層。若未及時干預,結垢會進一步降低模塊導電性,影響離子遷移效率。
2. 流量異常問題
現象:產水流量明顯低于設計值(如下降30%以上),同時伴隨進出口壓差增大(正常壓差通常≤0.3MPa,若超過0.5MPa需警惕)、出水水質惡化(電導率升高)。
原因:
- 進水水質超標:余氯含量過高(>0.05mg/L)會氧化破壞EDI內部的離子交換樹脂和膜片結構;硬度(鈣鎂離子)或硅含量(>1mg/L)過高,易在濃縮水側形成沉積物,阻塞流道;
- 預處理缺失:若進水前未配置保安過濾器(精度通常需≤5μm),水中的鐵銹、泥沙、懸浮顆粒等雜質會直接進入EDI模塊,劃傷膜片或堵塞樹脂間隙,導致水流通道變窄。
3. 水質不達標問題
現象:產水電導率突然升高(如從0.1μS/cm升至1μS/cm以上),或TOC(總有機碳)、硅等指標超出純水標準(如電子級超純水要求電導率≤0.055μS/cm)。
原因:
- 樹脂功能衰退:EDI模塊中的離子交換樹脂長期處于電再生循環(huán)中,若再生電流不足(如長期低電流運行)或再生周期過長,樹脂的交換容量會逐漸飽和,無法有效吸附水中陰陽離子;
- 操作參數異常:電壓設置過高(超出額定范圍)可能導致樹脂過熱失活;壓力傳感器或流量計故障,使模塊無法按設定參數運行(如流量過低時未觸發(fā)保護停機),加劇樹脂污染。
4. 模塊硬件變形問題
現象:模塊外殼或內部電極板出現彎曲、開裂,嚴重時可能導致電極接觸不良或密封失效。
原因:
- 高電流低流量運行:當進水流量不足(如低于設計值的50%)時,模塊內離子遷移速度跟不上電流強度,局部區(qū)域電阻急劇升高,產生大量熱量,導致塑料材質的電極板或流道殼體受熱變形;
- 通電不通水干燒:啟動時未先通水直接通電,或運行中因漏水導致水流中斷,此時電流通過干燥的樹脂和膜片會瞬間產生高溫,直接燒毀硬件結構。
5. 膜片穿孔問題
現象:產水中出現顆粒物(肉眼可見渾濁或檢測到懸浮物超標),或模塊內部出現漏水點(如電極室與濃水室之間串水)。
原因:
- 進水硬度長期超標:結垢物在膜片表面堆積,若未及時清洗,硬垢顆粒可能劃傷膜片;
- 干燒損傷:模塊在無水狀態(tài)下通電,高溫會使膜片材質(通常為復合離子交換膜)熔融或脆化,形成微小穿孔,導致陰陽離子直接穿透,產水水質惡化。
6. 漏水問題
現象:模塊外殼或連接處出現水滴滲漏,嚴重時可能引發(fā)電氣短路(如電極室進水)。
原因:
- 進水壓力過高:超過模塊設計壓力(通常為0.2-0.3MPa),可能導致密封圈被擠壓變形或破裂;
- 螺栓松動:運輸震動或長期運行中的熱脹冷縮會使固定模塊的螺栓逐漸松脫,破壞密封結構。
7. 電極故障
現象:設備運行時電流波動異常(如突然歸零或持續(xù)偏高),或電壓無法調節(jié)(如調至**電流仍無變化)。
原因:電極連接線路老化、氧化(如銅電極表面生成銅綠),或電極本身因長期浸泡在酸性/堿性環(huán)境中發(fā)生腐蝕,導致電路斷路(開路)或短路,直接影響電場驅動離子遷移的功能。
8. 溫度控制問題
現象:產水水質隨環(huán)境溫度變化顯著(如冬季電導率升高),或模塊運行效率下降(相同電流下產水量減少)。
原因:EDI模塊的離子遷移速率與水溫直接相關(通常每升高1℃,脫鹽效率提升約2%-3%)。若系統(tǒng)未配置恒溫裝置(如冷卻器或加熱器),冬季低溫會使樹脂活性降低,離子交換速度變慢;夏季高溫則可能加速樹脂老化,同時高溫環(huán)境下膜片的機械強度下降,更易受損。
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